Финская компания Donut Lab опубликовала результаты испытаний модуля Donut Battery при температурах −30 °C. По данным отчёта исследовательского центра VTT Technical Research Centre of Finland, после охлаждения модуль сохранил примерно 97% исходной ёмкости и около 93% запасённой мощности при разряде током 1C, причем без применения какой-либо защиты от холода. Перед испытанием в лаборатории модуль состоял из 14 элементов с номинальным напряжением 48 В; исходная ёмкость составила 27,77 А·ч, отданная энергия — 1354 Вт·ч.

Эксперимент проводили в климатической камере на пять часов, без нагревателей, теплоизоляции или других средств контроля температуры. По завершении испытания модуль вернулся к разряду током 1C, что позволило зафиксировать 26,8 А·ч — около 97% от исходной ёмкости, а отдача по энергии составила примерно 1254 Вт·ч, то есть около 93% от показателей при +25 °C. Такой результат указывает на небольшой спад рабочей мощности в морозном режиме, без существенного влияния тепловых эффектов.

Ранее в компании заявляли, что их твердотельная батарея сохраняет более 99% ёмкости при −30 °C, однако опубликованные данные показывают иной уровень сохраняемости, что вызывает вопросы к методике измерений и к сопоставляемости параметров с реальным изделием.

Разгорается новый спор вокруг самой технологии: независимый исследователь аккумуляторов Райан Инис Хьюз, выступавший под псевдонимом Ziroth, привлек более 20 специалистов для анализа ранее опубликованных результатов. В июне 2026 года они пришли к выводу, что анализируемый элемент по характерным кривым напряжения и расширения при зарядке скорее соответствует литий-ионному аккумулятору, чем заявленной натрий-ионной твердотельной батарее.

В сентябре Donut Lab ответила на обвинения результатами анализа в лаборатории Intertek: в образцах обнаружили лишь 3,4 миллиона долей лития и 632 миллиона долей натрия. Компания пояснила, что анализировала измельчённый материал, а не целые ячейки, и подчеркнула, что такие образцы могут не отражать состав готового изделия, что оставляет открытыми вопросы к выводам об устройстве и его составе.